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MSP 推出用于晶圆表面缺陷检测的高精度 SPx 校准标准
发布时间:2024-08-01        浏览次数:20        返回列表
   MSP 是 TSI? 的*个部门,我们很荣幸地宣布推出新的 SPx 校准标准,作为我们 Cal-Dep? 污染标准计划的*部分。这些精密设计的工具专为校准、验证和重新鉴定半导体制造中使用的*常见晶圆表面检测系统(如 KLA 的 Surfscan?)而设计。
  
  确保缺陷检测设备的准确性和可靠性
  
  MSP 的 SPx 校准标准在保持测试设备的准确性和可靠性方面发挥着关键作用,这对于在成熟的半导体制造节点中保持高产量和高质量至关重要。MSP 对卓越的承诺体现在其全面的 NIST 可追溯 SPx 校准标准系列中,这些标准由对制造流程和控制的细致记录、使用 SPx 的测试报告和其他认证保证提供支持。
  
  量身定制,满足您的校准需求
  
  MSP 的 SPx 校准标准产品组合包括单独的全(毯覆)沉积晶圆(每个晶圆上具有单*粒子尺寸)、Cal-Dep? 全沉积晶圆组以及多点晶圆。
  
  我们提供多种运输 SPx 校准标准的方法,以满足不同客户的需求。MSP 总裁 Darrick Niccum 表示:“此项服务可满足客户提出的各种校准要求,以确保他们能够选择*适合其需求和应用的晶圆组。”
  
  优化产量和晶圆质量
  
  MSP 结合行业**的设备知识和粒子沉积专业知识,为关键的表面检测应用提供具有*窄粒子分布和*高粒度精度的标准。这确保 MSP 的客户获得满足其苛刻要求的*流标准。
  
  使用 MSP 的 SPx 校准标准进行准确可靠的晶圆表面缺陷检测,从而优化产量和质量。如需更多信息,请访问tsi.com/SPx或联系我们的销售团队。